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芯片测试认证平台

服务布局
工程中心检测实验室（已过CNAS认证审核），具备完整的车规可靠性试验能力
  • 可靠性测试及认证
  • 失效分析
  • ATE测试开发
  • 信息安全
可靠性测试及认证

  • 协助芯片企业完成车规实验需求

  • 为整车企业筛选合格方案供应商

失效分析

  • 为芯片企业、零部件供应商、整车厂等提供全方位失效分析技术服务

  • 针对10大类芯片提供专业性失效分析解决方案

ATE测试开发

  • 业界主流ATE 测试设备，覆盖模拟、数字、混讯芯片测试

  • 具备主流ATE测试开发能力，包括硬件设计、程序开发、数据分析等

信息安全

  • 降低芯片信息安全研发风险和成本，提升研发技术与效率

  • 为芯片信息安全能力的研发、验证、生产、测试提供全生命周期保障

ATE测试服务及设备
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拥有业界主流ATE测试平台和三温Handler

  • 机台类型覆盖模拟，数字，混讯测试

  • 机台从高端到中低端全覆盖，可以根据客户需求选择合适平台

具有全平台测试开发能力

  • 测试硬件设计和制作（L/B,Socket,Kit等）

  • ATE测试程序开发

  • 机台从高端到中低端全覆盖，可以根据客户需求选择合适平台

  • ATE测试数据参数级分析比对

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    Advantest V93K
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    ACCO STS8200
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    Chroma3380
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    长川C6100TS

可靠性测试设备参考

具备完整的车规可靠性试验能力，可涵盖AEC-Q100、AEC-Q101、AQG324等各项试验项目。

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    可靠性超声扫描系统
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    功率温度循环/PTC
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    ESD 和门栓锁测试系统/
    充电设备模型（CDM）
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    HTOL试验箱
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    低温老炼箱子
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    高温寿命动态试验系统
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    高加速环境试验箱
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    热流焊系统
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车规芯片检测服务流程

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车规芯片三大认证标准

  • IATF 16949 质量管理体系认证
  • ISO 26262 功能安全标准
  • AEC-Q100 可靠性认证

车规芯片认证服务流程（举例 AEC-Q100 ）

申请企业认证材料

  • ① 车规芯片AEC-Q100可靠性认证确认申请表

  • ② 企业营业执照（复印件） 

  • ③ 单位法人证书 （复印件）

  • ④ 产品规格书及产品照片

  • ⑤ 芯片AEC-Q100检测报告 

  • ⑥ IATF16949或等同的质量管理体系证书（流片企业）

  • ⑦ 零部件及整车应用证明（有产品应用时提供） 

  • ⑧ 其他能够证明相关能力的材料  

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    可靠性测试及认证项目 — AEC-Q

    • AEC-Q100
    • AEC-Q101
    • AEC-Q102
    • AEC-Q103
    • AEC-Q104
    • AEC-Q200
    • AEC-Q100
      AEC-Q100
      加速环境应力测试_1.svg 加速环境应力测试.svg
      AEC-Q100

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        集成电路 IC

        共42项7个Group


      A

    • AEC-Q101
      AEC-Q101
      加速生命周期模拟测试_1.svg 加速生命周期模拟测试.svg
      AEC-Q101

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        分立半导体器件

        共31项5个Group


      B

    • AEC-Q102
      AEC-Q102
      封装组装完整性测试_1.svg 封装组装完整性测试.svg
      AEC-Q102

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        LED/光二极管

        共28项


      C

    • AEC-Q103
      AEC-Q103
      芯片制造可靠性测试_1.svg 芯片制造可靠性测试.svg
      AEC-Q103

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        无源器件共33项

        MEMS麦克风器件共13项 


      D

    • AEC-Q104
      AEC-Q104
      电性验证测试_1.svg 电性验证测试.svg
      AEC-Q104

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        多芯片组件MCM

        共49项


      E

    • AEC-Q200
      AEC-Q200
      缺陷筛选测试_1.svg 缺陷筛选测试.svg
      AEC-Q200

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        无源器件

        共33项


      F

    • 腔体封装完整性测试_1.svg 腔体封装完整性测试.svg

      G

    AEC-Q100 具备的主要常规能力：

    • Test Group F
      瑕疵筛选
    • Test Group C
      封装测试
    • Test Group D
      晶圆可靠性
    • Test Group E
      电性特性确认
    • Test Group A
      环境应力加速
    • Test Group B
      使用寿命模拟
    • Test Group E
      电性验证测试
    • Test Group H
      空腔/密封测试
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